IEAv Recebe Equipamento Ímpar no Brasil Para Espectrometria de Massa de Amostras Sólidas em Três Dimensões
Segue uma nota postada dia (05/03) no site do Instituto de
Estudos Avançados (IEAv) destacando que o instituto recebeu equipamento ímpar
no Brasil para Espectrometria de Massa de amostras sólidas em três dimensões
Duda Falcão
IEAv Recebe Equipamento Ímpar no Brasil
Para Espectrometria de Massa de Amostras
Sólidas em Três Dimensões
05/03/2015
Está
em operação um espectrômetro de massa de íons secundários (SIMS), no
Laboratório 5C do Projeto PASIL, localizado no Prédio EFO-C. Trata-se do
primeiro sistema deste tipo adquirido no Brasil.Este é
um equipamento que realiza análise de espécies (átomos e moléculas), em
amostras sólidas, de massas 1 uma (unidade de massa atômica) até 300 uma, com
resolução de 1 massa em 300, sendo possível analisar também a distribuição de
massas especificadas pelo usuário em 3 dimensões (volumétrica). Perfis
superficiais (resolução ~ 80 mm) e perfis em profundidade (resolução – camadas
monoatômicas) podem ser obtidos para espécies pré selecionadas. Como potenciais
aplicações no IEAv e para colaboradores externos estão a análise de
distribuição isotópica (PASIL), distribuição de espécies em circuitos
integrados microeletrônicos e optoeletrônicos (EFO-S) em 2D ou 3D, perfil de
filmes finos em profundidade (EFO-O) e distribuição espacial das espécies em
ligas metálicas (EFO-L). Atualmente, estamos realizando vários experimentos
para dominar e parametrizar a técnica. A ideia inicial é priorizar as tarefas
para a execução de trabalhos internos ao Projeto PASIL, da Divisão de Fotônica
e das outras Divisões do IEAv para depois abrirmos para colaborações com
instituições externas.
Desenvolvimento
de novos materiais para a indústria aeroespacial, novos dispositivos
microeletrônicos e optoeletrônicos para aeronaves, baterias mais eficientes com
isótopos de terras raras, e outras áreas de desenvolvimento tecnológico
aeroespacial se beneficiarão deste novo nível de observação/caracterização
proporcionado pelo SIMS.
Espectrômetro de massa.
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Fonte: Site do Instituto de Estudos Avançados (IEAv)
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